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金年会:Sic功率芯片制造工艺技术知识与专家报告分享

作者:金年会发布时间:2025-03-23

  Sic功率芯片:即碳化硅(Silicon Carbide,简称SiC)芯片,是一种基于第三代半导体材料的芯片。SiC芯片具有宽禁带、高临界击穿电场、高电子饱和迁移速率和高导热率等优良特性,使其在电力电子器件领域得到广泛关注和应用。

  宽禁带‌:SiC的禁带宽度较大,这使得它在高温下仍能保持较高的载流子迁移率,适用于高温工作环境。

  ‌高临界击穿电场‌:SiC的临界击穿电场远高于硅(Si)和砷化镓(GaAs),适合制作高压器件。

  ‌高电子饱和迁移速率‌:SiC的电子迁移速率高,使得其开关速度更快,适用于高频应用。

  ‌高导热率‌:SiC的导热率优于Si,有助于散热,提高器件的稳定性和可靠性。

  SiC器件制造需原料选择、单晶生长、晶圆加工(切割、磨光、清洗)、器件制造(氧化、光刻、蚀刻、掺杂、金属化、封装)及测试质量控制,涉及高科技设备,5G基站,未来在电力电子,外太空工业与控制等领域将发挥重要作用。

  随着电动汽车、可再生能源和高效电力转换设备的快速发展,碳化硅(SiC)作为宽禁带半导体材料,逐渐成为现代电子器件制造中的重要选择。SiC器件以其优越的热性能和电气特性,能够在高温、高频和高功率条件下稳定工作。本文将为您详细介绍SiC器件的制造工艺流程。

  一、SiC材料的准备

  1. 原料选择

  SiC的制造通常以硅(Si)和碳(C)为原料。高纯度的硅和石墨是制造SiC的基本原料,确保最终产品的性能和可靠性。

  2. 单晶生长

  SiC的生长一般采用“气相沉积法”或“液相沉积法”。常见的气相沉积方法包括化学气相沉积(CVD)和气相外延(Epitaxy),而液相沉积则包括漂浮区熔炼法(FZ法)和碳化法等。通过这些方法,能够生成高质量的SiC单晶晶体。

  二、晶圆加工

  1. 切割

  将生长好的SiC单晶晶体切割成薄片,形成晶圆。切割过程需要高精度的设备,以确保晶圆的厚度均匀和表面平整。

  2. 磨光

  切割后的晶圆表面通常粗糙,需要经过磨光处理,以达到所需的光滑度和尺寸精度。磨光过程涉及多次化学机械抛光(CMP)。

  3. 清洗

  在进入后续工艺之前,晶圆需要经过严格的清洗步骤,以去除表面的颗粒物和化学残留,确保其洁净度。

  三、器件制造

  1. 氧化

Sic功率芯片制造工艺技术知识与专家报告分享

  在晶圆表面生长一层二氧化硅(SiO2)膜,用于后续的电介质绝缘和掩模层。氧化过程通常采用热氧化或化学气相沉积。

  2. 光刻

  通过光刻工艺,将设计好的电路图案转移到氧化层上。光刻胶涂布、曝光和显影等步骤是这一过程的关键。

  3. 蚀刻

  在光刻图案的保护下,采用干法或湿法蚀刻去除不需要的氧化层,从而形成所需的图案。

  4. 杂质掺杂

  通过离子注入或扩散的方法,将适量的掺杂剂(如氮、铝等)引入到SiC晶圆中,以调节其电导率和其他电气特性。

  5. 金属化

  在经过掺杂的晶圆上沉积金属层,通常采用蒸发或溅射技术。金属层用于形成电极,确保器件的电气连接。

  6. 封装

  最后,将制造好的SiC器件进行封装,以保护器件并提供电气连接。随着封装技术的发展,越来越多的先进封装技术(如系统级封装、模块化封装等)被应用于SiC器件。

  四、测试与质量控制金年会金字招牌

  在SiC器件制造的每个阶段,都需要进行严格的测试和质量控制。这包括材料性能测试、电气性能测试和可靠性测试等。确保每个生产环节符合标准,是SiC器件在实际应用中能够稳定运行的前提。

  五、Sic芯片封装未来发展展望

  SiC芯片封装未来发展展望乐观,将朝更低寄生电感、更高温可靠性及更大规模生产方向发展‌。

  ‌技术改进‌:针对SiC器件的快速开关特性和高温工作环境,封装技术将持续改进。低寄生电感封装技术,如ZPOC封装,将有效降低寄生电感,提升器件性能。同时,高温封装技术将确保SiC器件在高温下的可靠性和稳定性。 ‌

  市场需求增长‌:随着新能源汽车、充电基础设施、5G基站,智能制造装备,外太空工业与控制等领域的快速发展,SiC器件需求将迎来爆发增长。这将推动SiC芯片封装技术的不断创新和升级,以满足市场对高性能、高可靠性封装产品的需求。

  结论

  SiC器件的制造工艺是一个复杂而精密的过程,涉及多个环节和高科技设备。随着技术的进步,SiC器件的生产效率和性能不断提高,未来在电力电子、汽车电子,充电基础设施、5G基站等领域将发挥更大作用。希望本文能够帮助读者更深入地了解SiC器件的制造流程,为相关领域的研究和应用提供参考。

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  报告专家:曾 正 教授

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